Поиск статей с ключевым словом 'элементный состав':

Бюллетень / Архив выпусков / Выпуск №2 / Физика
c. 13-15

Метод просвечивающей электронной микроскопии в исследовании периодической гетероструктуры с туннельно-связанными

Н.В. Малехонова, Д.А. Павлов, А.И.Бобров, Н.В. Байдусь
УДК: 539.25

Нижегородский госуниверситет им. Н.И.Лобачевского,

Научно-исследовательский физико-технический институт ННГУ, Нижний Новгород

В данной работе на примере исследования периодической гетероструктуры с тунельносвязанными квантовыми ямами InGaAs/GaAs методом просвечивающей электронной микроскопии демонстрируются основные режимы работы и возможности данного метода, а также способы обработки получаемых снимков,  и их  возможные результаты.